一種基于FPGA的eMMC壽命驗證的方法 | |
所屬分類:技術論文 | |
上傳者:wwei | |
文檔大?。?span>3540 K | |
標簽: eMMC 壽命驗證 High Speed DDR總線 | |
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文檔介紹:為滿足測試eMMC存儲顆粒的長時間讀寫性能要求,研究了一種基于FPGA的eMMC壽命驗證方法。結合eMMC工作原理和High Speed DDR(雙倍率)總線模式,詳細設計出驗證系統的核心組成部分。硬件采用FPGA(xc7a50tfgg484-1)芯片作為主控器,4片eMMC(FEMDRW064G-88A19)芯片作為驗證對象。解析eMMC初始化配置方法,設計開放式讀寫模塊,配合eMMC監控軟件控制指令,完成4片180 000次塊區域的循環讀寫,測試結果全部通過,讀寫均速達到31 MB/s。 | |
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