射頻模塊中晶振對電磁兼容影響研究 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大小:7746 K | |
標(biāo)簽: 電磁兼容 電磁干擾 數(shù)模混合 | |
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文檔介紹:提出了一種SoC芯片時鐘方案,并設(shè)計了兩種版圖方案。針對模塊中產(chǎn)生電磁干擾的原因進(jìn)行分析,通過判斷信號間隔離度仿真結(jié)果,可提前識別版圖方案中是否存在信號間干擾風(fēng)險,進(jìn)而惡化SoC芯片輸出模擬信號質(zhì)量。根據(jù)信號間隔離度仿真結(jié)果指導(dǎo)版圖設(shè)計,并給出優(yōu)化版圖方法,改善了信號間隔離度性能。測試結(jié)果表明,版圖設(shè)計兩種方案的仿真結(jié)果與實測結(jié)果吻合,驗證了仿真結(jié)果的準(zhǔn)確性、可參考性。 | |
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