| 基于UVM的Wishbone-SPI驗證平臺設(shè)計 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：691 K | |
| 標(biāo)簽： UVM SPI Wishbone | |
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| 文檔介紹：隨著芯片復(fù)雜度增加，芯片驗證在設(shè)計流程中所消耗時間也不斷提高。針對傳統(tǒng)驗證平臺重用性差、覆蓋率低，通過使用通用驗證方法學(xué)(Universal Verification Methodology，UVM)設(shè)計Wishbone-SPI驗證平臺，用UVM組件靈活地搭建驗證平臺，完成標(biāo)準(zhǔn)的驗證框架，設(shè)計受約束隨機激勵，自動統(tǒng)計功能覆蓋率。仿真結(jié)果顯示，該驗證平臺功能覆蓋率達(dá)到100%，并表明該平臺具有良好的可配置性與可重用性。 | |
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