《電子技術應用》
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DSP片上Flash測試系統設計與實現
電子技術應用
王濤,于鵬,錢昀瑩
中國電子科技集團公司第五十八研究所
摘要: 在DSP芯片的可靠性篩選考核試驗中,片上Flash擦寫耐久和數據保持測試是最重要的試驗之一。針對內建自測試和外部自動化機臺測試的局限性,提出了一種DSP片上Flash測試系統的設計與實現方法。在分析了Flash故障類型和測試算法的基礎上,給出了硬件原理圖和軟件實現流程,并搭建了實物平臺進行效果評估。測試結果表明:該系統可實現多工位DSP片上Flash自動化測試,無需人工參與。同時工作狀態可實時顯示,測試過程中的數據和結果自動保存在外部存儲器中,便于后期進行測試結果統計分析。
中圖分類號:TN306 文獻標志碼:A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.245650
中文引用格式: 王濤,于鵬,錢昀瑩. DSP片上Flash測試系統設計與實現[J]. 電子技術應用,2025,51(2):41-45.
英文引用格式: Wang Tao,Yu Peng,Qian Yunying. Design and implementation of DSP on-chip Flash testing system[J]. Application of Electronic Technique,2025,51(2):41-45.
Design and implementation of DSP on-chip Flash testing system
Wang Tao,Yu Peng,Qian Yunying
The 58th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation
Abstract: In the reliability screening and assessment test of DSP chip, the on-chip Flash erasure durability and data retention test is one of the most important tests. In view of the limitations of built-in self-test and external automated machine testing, this paper proposes the design and implementation of a test system for on-chip Flash of DSP chip. Based on the analysis of Flash fault types and test algorithms, the hardware schematic diagram and software implementation process are given, and a physical platform is built for effect evaluation. The test results show that the system can realize the on-chip Flash automatic test of multi position DSP chip without manual participation. At the same time, the working status can be displayed in real time, and the data and results in the test process can be automatically saved in the external memory, which is convenient for the statistical analysis of the test results in the later stage.
Key words : on-chip Flash;erasure durability;data retention;test system

引言

數字信號處理器(Digital Signal Processor,DSP)片上一般集成了Flash存儲器,片上Flash以二進制碼的形式存儲用戶應用程序及數據,可在DSP芯片掉電后保持數據不丟失。鑒于片上Flash的非易失性、低功耗等優點,集成片上Flash的DSP芯片已廣泛應用在數字電源、伺服控制以及智能電網等領域[1]。

為保證片上Flash存儲器的可靠性,在DSP芯片篩選考核試驗中,Flash擦寫耐久數據保持測試是最重要的試驗之一[2]。Flash存儲器測試方法主要分為內建自測試和外部測試,其中內建自測試方法受限于固定的測試電路,難以保證測試覆蓋率;外部測試又分為自動化測試設備(Automatic Test Equipment,ATE)和板級專用工裝測試,由于Flash全地址空間擦寫耐久和數據保持測試時間長、測試向量較大,利用ATE機臺測試DSP片上Flash效率低且成本高[3]。

針對內建自測試和外部ATE機臺測試的局限性,本文提出了一種DSP片上Flash測試系統的設計與實現方法,詳細介紹了片上Flash存儲器測試方案、系統硬件設計以及軟件開發等。該系統可實現多工位DSP片上Flash存儲器自動化測試,上電后被測DSP芯片通過SPI接口在線加載測試程序,工作狀態可實時顯示。上述過程無需人工參與,提高了測試效率,降低了測試成本。同時測試過程中的數據和結果自動存儲在外部EEPROM中,便于后期進行測試結果統計分析,為進一步提高DSP片上Flash測試效率和故障覆蓋率提供依據[4]。


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作者信息:

王濤,于鵬,錢昀瑩

(中國電子科技集團公司第五十八研究所,江蘇 無錫 214062)


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