文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222962
中文引用格式： 王鋒，王磊，張栗榕. 自適應(yīng)跨平臺(tái)PSS中間件架構(gòu)及開(kāi)發(fā)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：20-25.
英文引用格式： Wang Feng，Wang Lei，Zhang Lirong. Self-adapting midware architecture & development for cross-platform PSS[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：20-25.
0 引言
隨著半導(dǎo)體行業(yè)的高速發(fā)展，集成電路的規(guī)模和設(shè)計(jì)的復(fù)雜性在不斷地增大，使得芯片設(shè)計(jì)的正確性很難保證，與此同時(shí)，芯片驗(yàn)證也越來(lái)越困難，成為了現(xiàn)代芯片開(kāi)發(fā)周期的瓶頸[1]。隨著芯片驗(yàn)證方法學(xué)的發(fā)展，傳統(tǒng)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（Electronic Design Automation, EDA）驗(yàn)證發(fā)展到與硬件加速（Emulator，EMU）平臺(tái)和FPGA（Field Programmable Gate Array）原型驗(yàn)證平臺(tái)混合的驗(yàn)證手段。而如何在模塊級(jí)、子系統(tǒng)級(jí)、系統(tǒng)級(jí)等不同層級(jí)和EDA、EMU、FPGA不同類型測(cè)試臺(tái)（Testbench，TB）上進(jìn)行測(cè)試激勵(lì)的復(fù)用，確保不同平臺(tái)驗(yàn)證的一致性，成為了新的挑戰(zhàn)[2]。
為了實(shí)現(xiàn)測(cè)試激勵(lì)的有效復(fù)用，繼UVM（Universal Verification Methodology）之后，Accellera標(biāo)準(zhǔn)組織推出了便攜式測(cè)試和激勵(lì)標(biāo)準(zhǔn)（Portable Stimulus Standard，PSS），其目標(biāo)是提供一個(gè)獨(dú)立的測(cè)試激勵(lì)來(lái)源，并在更高的抽象級(jí)別上定義激勵(lì)和場(chǎng)景，從而實(shí)現(xiàn)跨層級(jí)和平臺(tái)的場(chǎng)景描述和測(cè)試激勵(lì)復(fù)用。其主要的特點(diǎn)如下：
(1) 通過(guò)PSS建模在更高抽象級(jí)別上指定激勵(lì)和測(cè)試，可定義面向CPU（Central Processing Unit）和各類接口協(xié)議的復(fù)雜組合場(chǎng)景。
(2) 可以方便地生成隨機(jī)組合場(chǎng)景的C/C++或者SV (SystemVerilog）代碼，通過(guò)編譯并加載C/C++如案卷程序?qū)崿F(xiàn)CPU的驗(yàn)證場(chǎng)景，通過(guò)調(diào)用驗(yàn)證IP（Verification Intellectual Property, VIP）或硬件加速VIP（Accelerated VIP，AVIP）實(shí)現(xiàn)對(duì)特定協(xié)議接口的激勵(lì)。
(3) PSS場(chǎng)景模型不僅可應(yīng)用于模塊級(jí)、子系統(tǒng)級(jí)和系統(tǒng)級(jí)EDA測(cè)試臺(tái)，還可以用在EMU、FPGA平臺(tái)，為不同級(jí)別的平臺(tái)產(chǎn)生相同的激勵(lì)，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試激勵(lì)復(fù)用，確保了驗(yàn)證的一致性。
本文詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)下載：http://www.j7575.cn/resource/share/2000005070。
作者信息：
王鋒，王磊，張栗榕
（新華三半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 西安研究所，陜西 西安 710075）
