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基于LabVIEW和NIPXI射頻儀器,ST-Ericsson將半導體測試速度提升10倍
摘要: 構建靈活的驗證測試解決方案,滿足半導體芯片測試的多種射頻標準,進而升級整個特性記述實驗室。
Abstract:
Key words :

作者
Sylvain Bertrand - ST-Ericsson

在智能手機與平板電腦的半導體開發方面,ST-Ericsson是業界的領導廠商。我們在全球都設有開發與測試中心以及多個特性記述實驗室,可完整 地測試與驗證智能手機和平板電腦的射頻元件/平臺。 這些平臺包含多種無線電,例如GPS、藍牙、3G、4G等規格,這一系列的平臺測試作業包含了近800,000次測量。

ST-Ericsson芯片本身極為復雜,因此就需要驗證實驗室能夠滿足多種射頻標準,且達到嚴格測試的效能需求。就算只是連接這些芯片,也需要多種標準與自定制數字協議。 然而,射頻分析儀、發生器、數字波形發生器等傳統箱型儀器體積龐大又昂貴,且其靈活度無法滿足ST-Ericsson的需求。

ST-Ericsson的測試工程師因此選用了PXI平臺來取代傳統箱型儀器。 他們選擇了NI FlexRIO與不同的數字標準,例如串行外設接口(SPI)和內置集成電路(I2C),進行通信。即便目前市面上的數字適配器模塊不能夠滿足需求,工程師也可快速開發自己的適配器模塊,無需擔心電腦后端以及FPGA通信功能。 針對射頻測試,ST-Ericsson選用了高性能的NI PXIe-5665矢量信號分析儀,它具備軟件定義的特性,并可與NI LabVIEW工具包兼容,滿足所有無線標準。
 

成本

 

先前的解決方案

PXI解決方案

提升程度

射頻分析儀 + 軟件

 $98,000 USD

$34,999 USD

2.8倍

射頻生成器 + 軟件

$94,000 USD

$28,999 USD

3.2倍

總體成本

$192,000 USD

$64,000 USD

3倍

 

測試時間

 

先前的解決方案

PXI解決方案

提升程度

WCDMA ACP

 400 ms

30 ms

15倍

LTE EVM

1.2 s

390 ms

3倍

總時間 (800,000次測量)

3天

8小時

10倍

總的來說,相較之前的解決方案,PXI系統速度提升了十倍,而成本是之前的三分之一。PXI平臺的靈活性,能夠適應各種不同的數字和射頻標準。

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